Las propiedades electromecánicas de moléculas individuales han sido recientemente objeto de novedosos estudios.[1-3]. Entre estas publicaciones, es conveniente mencionar el trabajo de Xu et al[2], quienes midieron la conductancia y las constantes de fuerza de una sola molécula adherida a dos electrodos, y la dependencia de la conductancia con la fuerza aplicada. Estos autores realizaron medidas electromecánicas de 1,8-octanoditiol, y 4,4’- bipiridina covalentemente ligada a dos electrodos, durante el estiramiento mecánico del sistema. A partir de estas medidas, se obtuvieron histogramas de fuerza y conductancia para un gran número de curvas experimentales. Los histogramas de fuerzas revelaron picos pronunciados con un cuanto de fuerza característico de 0.8±0.2 nN para 4,4’- bipiridina, que fue atribuído a la unión Au-N. Mientras que en el caso del tiol se espera la ruptura en el enlace Au-Au sobre la base de la fuerza del enlace Au-S, este no es el caso de la interacción Au-N. Por otro lado, los valores medidos de conductancia mostraron saltos discretos, correlacionados con el comportamiento de diente de sierra de la fuerza. Aunque en la literatura se encuentran numerosas contribuciones de cálculos de conductancia[3], no ocurre los mismo con los cálculos de fuerzas. En el presente trabajo presentamos cálculos realizados dentro del formalismo del funcional de la densidad electrónica para sistemas que involucran nanoalambres de Au con impurezas atómicas y con moléculas intercaladas, en comparación con la ruptura de alambres puros. La geometría del sistema fue optimizada para diferentes fuerzas aplicadas, encontrándose acuerdo cuantitativo con el experimento. Agradecimientos Los autores agradecen soporte financiero de CONICET, Agencia Córdoba Ciencia, Secyt U.N.C., Program BID 1201/OC-AR PICT No. 06-12485 Referencias [1] X. Xiao, B. Xu, and N. Tao,, Nano Letters 4 (2004)267. [2]B. Xu, X. Xiao and N. Tao, J. Am. Chem.. Soc. 125(2003)16164. [3]S. Hou, J. Zhang, R. Li, J. Ning, R. Han, Z. Shen, X. Zhao, Z. Xue and Q. Wu, Nanotechnology, 16(2005)239.