La voltamperometría cíclica y la Espectroscopia de Impedancia electroquímica (EIE) son útiles para el monitoreo de las propiedades de monocapas autoensambladas (SAMs) ya que brindan información sobre la presencia y distribución de defectos o huecos superficiales y la cinética de los procesos de formación y el cubrimiento superficial, entre otros aspectos de interés. El bloqueo de la transferencia electrónica de cuplas redox producido por la presencia de SAMs sobre metales, raramente es completo. En muchos casos, las capas exhiben un comportamiento que se asemeja a un arreglo de microelectrodos donde los sitios activos son identificados como defectos o huecos (pinholes) en la película. Tanto el electrolito como las especies de las sondas electroquímicas tienen acceso al sustrato metálico a través de dichos defectos, por lo que la respuesta electroquímica dependerá de su tamaño, cantidad y distribución [1-8].
Con el objetivo de caracterizar monocapas autoensambladas de 2-MPY preparadas bajo distintas condiciones sobre electrodos de oro, se estudió el comportamiento electroquímico de cuplas redox sobre superficies modificadas. Los voltamperogramas obtenidos para la cupla Fe2+/Fe3+ en ausencia de SAMs, fueron ajustados siguiendo el modelo propuesto por Nicholson [3,4] mientras que la respuesta de los electrodos modificados se describe mediante el modelo de Amatore et al. [5,6] para la respuesta de los electrodos modificados con 2-MPY. La forma de los perfiles corriente/potencial para los electrodos cubiertos depende tanto de los parámetros cinéticos (constante de velocidad y coeficiente de transferencia de carga) como de los parámetros estructurales (fracción de área bloqueada, tamaño y distribución de los defectos). Los parámetros cinéticos y estructurales de las monocapas también fueron obtenidos mediante EIE, analizándose la repuesta en términos del circuito eléctrico equivalente deducido a partir del modelo anteriormente mencionado.

Referencias
[1] H.O. Finklea, en A.J. Bard, I. Rubinstein (Eds.), Electroanalytical Chemistry, vol. 19, Marcel Dekker, New York, 1996.
[2] S. Campuzano, M. Pedrero, C. Montemayor, E. Fatás, J.M. Pingarrón, J. Electroanal. Chem. 586, (2006) 112.
[3] R.S. Nicholson, Anal.Chem. 37 (1965) 1351.
[4] R.S, Nicholson, I. Shain, Anal.Chem. 36,(1964) 706.
[5] T. Gueshi, K. Tokuda, H. Matsuda, Electroanal.Chem, 101, 29 (1979).
[6] C. Amatore, J.M Savént, D. Tessier, J. Electroanal. Chem. 147 (1983) 39.
[7] F. Chevallier, L. Jiang, T. Jones, R.G. Compton, J. Electroanal. Chem. 587 (2006) 254.
[8] T. Davies, R. Moore, C. Banks, R.G. Compton, J. Electroanal. Chem., 574 (2004) 123.