LINAREZ PÉREZ OMAR EZEQUIEL
Convenios, asesorías y/o servicios tecnológicos
Título:
Análisis de muestras por escaneo de superficies con técnicas SPM
Autor/es:
LINAREZ PÉREZ, OMAR E.; CAROT, MARÍA LUCRECIA
Fecha inicio:
2017-12-01 00:00:00
Fecha finalización:
2023-12-01 00:00:00
Campo de Aplicación:
Prom.Gral.del Conoc.-Cs.Exactas y Naturales
Descripción:
Consiste en el análisis de muestras por escaneo de superficies (Scanning Probe Microscopy). Por AFM (Atomic Force M.) se escanea la superficies en modo contacto y/o intermitente. Estas muestras pueden ser secas, en solución y muestras biológicas debidamente preparadas. Por STM (Scanning TunnelingM.) se utilizan superficies conductoras secas o muestras en la interfaz sólido/líquido. Destinatarios: Industria metalúrgica, farmacéutica, de materiales poliméricos y Lab. de Investigación de C&T.
