FERNÁNDEZ RICARDO ARIEL
Congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización superficial de sustratos conductores modificados covalentemente con un emisor de luz orgánico.
Autor/es:
F. MAYORGA; R.A. FERNÁNDEZ; C.I. VÁZQUEZ; J. E. ARGUELLO; F.P. COMETTO; S.A. DASSIE
Reunión:
Congreso; IX Encuentro de Física y Química de Superficies y I Encuentro de Biología de Superficies; 2022
Resumen:
El desarrollo de nuevos materiales, especialmente de los materiales emisores de luz, lleva un largo camino recorrido. En los últimos 30 años se ha invertido gran esfuerzo para diseñar y funcionalizar nuevos materiales con el fin de mejorar la inyección y transporte de huecos y/o electrones en dispositivos orgánicos emisores de luz (OLEDs)1.Por su parte, el área de la electroquímica asociada con los electrodos modificados ha tenido un auge promisorio en los últimos años, impulsado por los estudios en monocapas autoensambladas y la nanociencia aplicada a la fabricación de distintos dispositivos electronicos2.En esta presentación, se propone modificar un conductor transparente con un emisor orgánico de luz unido covalentemente, y analizar las propiedades electroquímicas y luminiscentes del electrodo modificado. En este contexto, está claro que para el desarrollo de dispositivos electroluminiscentes es de gran importancia la determinación tanto de sus propiedades fotoelectroquímicas como superficiales. En este estudio, nuestro trabajo está centrado en la caracterización química superficial mediante espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS) de un conductor transparente modificado covalentemente con un emisor orgánico.Como primer parte del trabajo se describe la síntesis de un complejo de rutenio silanizado, su determinación estructural y estudio de sus propiedades fotoquímicas. Posteriormente, se presenta la caracterización electroquímica de dicho complejo anclado sobre un vidrio conductor modificado con óxido de Indio y Estaño (ITO). Finalmente se aborda el estudio detallado del complejo de rutenio anclado sobre la superficie de ITO mediante su caracterización superficial por XPS.