Las monocapas autoensambladas (SAMs) sobre superficies sólidas son ampliamente estudiadas debido a su potencial aplicación en diversas áreas como inhibidores de la corrosión, reconocimiento molecular, biosensores, etc. [1]. Una SAM consta de moléculas con 3 partes diferentes: un grupo cabeza que une a la molécula a la superficie, un grupo terminal que constituye la parte externa de la capa y le confiere una nueva identidad química a la superficie, y la parte espaciadora entre los grupos cabeza y terminal la cual es la responsable de las interacciones intermoleculares de las SAMs. El sistema compuesto por SAMs más estudiado es el de alcanotioles sobre la superficie 111 de oro [2]. Estudios previos indican que las SAMs formadas por alcanotioles típicamente se desorben de la superficie de Au(111) a temperaturas que oscilan entre 373-473 K [3]. Sin embargo, existe poca evidencia en la actualidad acerca del proceso de desorción térmica y de las respectivas especies involucradas en ella.
El objetivo general del trabajo es estudiar mediante técnicas electroquímicas (CV, EIS), y superficiales (XPS radiación sincrotrón) la estructura y estabilidad térmica de monocapas autoensambladas de diferentes tioles (alquílicos y aromáticos). El objetivo de estudiar la estabilidad térmica de las SAMs está directamente relacionado con la utilización de estos sistemas como dispositivos eléctricos ya que la conductividad es sensible a la temperatura y es de gran interés el conocimiento de los rangos de temperatura de trabajo en futuros dispositivos eléctricos.
Para realizar las medidas electroquímicas de la estabilidad térmica de las SAMs, se utilizó un sistema de celdas electroquímicas acopladas a un horno con atmósfera de N2 diseñado recientemente en el laboratorio. Las medidas de XPS fueron realizadas en el Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón, Campinas SP, Brasil.
[1] A. Ulman, ?An Introduction to Ultrathin Organic Films: Langmuir-Blodgett to Self Assembly?, Academic Press,
[2] A. Ulman, Ed. ?Thin Films: Self-Assembled Monolayers of Thiols?, Academic Press,
[3] Y. S. Shon, T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104 (2000) 8192?8200. ? R. S. Clegg, S. M. Reed, J. E. Hutchison, J. Am. Chem. Soc. 120 (1998) 2486?2487 ? G. K. Jennings, P. E. Laibinis, J. Am. Chem. Soc. 119 (1997) 5208?5214. ? T. Kim, K. C. Chan, R. M. Crooks, J. Am. Chem. Soc. 119 (1997) 189?193. ? E. Sabatani, J. Cohenboulakia, M. Bruening, I. Rubinstein, Langmuir 9 (1993) 2974?2981. - C. D. Bain, E. B. Troughton, Y. T. Tao, J. Evall, G. M. Whitesides, R. G. Nuzzo, J. Am. Chem. Soc. 111 (1989) 321?335. ? S. Vollmer, G. Witte, C. Woll, Langmuir 17 (2001) 7560?7565.
