La  microscopia  ó ptica  de  campo  cercano  (SNOM  ­Scanning  Near  Field  Optical   Microscopy ­) constituye  una  herramienta  poderosa  para  obtener  im á genes  ó pticas  en  la   nanoescala, detectar  campos  electromagn é ticos  confinados  y  realizar  espectroscopia  local  de   superficies, abriendo  el  camino  hacia  la  detecci ó n  de  una  ú nica  mol é cula  [1,2 ]. Cualquiera  sea  la  aplicaci ó n  el  principio  de  dicha  microscopia  esta  basada  en  la  interacci ó n  del  campo   electromagn é tico  con  estructuras  nanom é tricas, por  lo  que  resulta  indispensable  el  c á lculo   riguroso  de  dicha  interacci ó n  para  la   correcta  interpretaci ó n  de  los  efectos  observados. En  este  trabajo  realizamos  un  estudio  sistem á tico  de  los  factores  que  controlan  esta   interacci ó n  utilizando  aproximaciones  de  elementos  finitos  [3,4,5,6 ]  para  resolver  las   ecuaciones  de  Maxwell  y  determinar  en  forma  expl í cita  los  campos  electromagn é ticos  locales  generados  al  iluminar  nanoestructuras  met á licas  a  diferentes  longitudes  de  onda. Los  c á lculos   fueron  efectuados  para  nanoestructuras  de  metales  nobles  ( Ag  , Au  ), con  diferentes  formas  y  tama ñ os, permitiendo  identificar  aquellas  que  produzcan  una  m á xima  amplificaci ó n  del  campo   cercano, y  reconstruir  las  im á genes  ó pticas  producidas  por  esta  interacci ó n  [7 ]. Las   simulaciones  fueron  comparadas  con  recientes  resultados  experimentales. Estos  resultados  son  relevantes  para  el  dise ñ o  inteligente  de  sustratos  en   espectroscopias  incrementadas  (SERS  ­Surface  Enhanced  Raman  Spectroscopy ­ , MEF  ­Metal  Enhanced  Fluorescence) y  para  la  interpretaci ó n  de  im á genes  en  SNOM.