Application of a Genetic Algorithm in a Fault-tolerant Filter

14th Argentine Symposium on Technology (AST),

Lugar: Cordoba; Año: 2103;

OpenCL-Accelerated Simplified General Perturbations 4 Algorithm

Argentine Symposium on Technology (AST) (JAIIO)

Lugar: Cordoba; Año: 2013;

Tolerancia a fallas en un filtro de alto orden mediante una estrategia de hardware evolutivo

IV Congreso de Microelectrónica Aplicada 2013

Lugar: Bahia Blanca; Año: 2013;

Fault-tolerant Filter based on an Evolvable Hardware Technique: a case study

13th Argentine Symposium on Technology (AST), dentro de las 41° Jornadas Argentinas de Informática (JAIIO)

Lugar: La Plata; Año: 2012;

Comparación experimental de algoritmos genéticos en un filtro tolerante a fallas

III Congreso Microelectrónica Aplicada 2012

Lugar: Rosario; Año: 2012;

EZEQUIEL BRAC; PABLO A. FERREYRA; RAOUL VELAZCO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

A New Automatic VHDL Fault Injection Tool: A Case Studied

XV Workshop IBERCHIP 2009

Lugar: Buenos Aires, Argentina; Año: 2009;

JUAN A. FRAIRE; PABLO A. FERREYRA; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Aplicación de SC-FDMA u OFDMA Pre-Codificado Linealmente

XV Workshop IBERCHIP 2009

Lugar: Buenos Aires, Argentina; Año: 2009;

LUCAS DAMIAN GABUTTI; P. A. FERREYRA; CARLOS ALBERTO MARQUÉS; EZEQUIEL BRAC

Conformación Digital de Haz de Radiación Implementado en un Sistema de Audio

XV Workshop IBERCHIP 2009

Lugar: Buenos Aires, Argentina; Año: 2009;

JOSE PERALTA; MARCELO COSTAMAGNA; GABRIELA PERETTI; EDUARDO ROMERO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Estimating the quality of Oscillation-Based Test for detecting parametric faults

10th Latin American Test Workshop. 2-5 Marzo de 2009

Lugar: Buzios, Rio de Janeiro, Brasil; Año: 2009;

MARCELO COSTAMAGNA; MÓNICA LOVAY; GABRIELA PERETTI; EDUARDO ROMERO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Evaluación de la calidad del test basado en oscilaciones: un caso de estudio

II Congreso de Matemática Aplicada, Computacional e Industrial, MACI 2009

Lugar: Rosario, Argentina; Año: 2009;

JOSE PERALTA; GABRIELA PERETTI; EDUARDO ROMERO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Revisión de la calidad del test basado en oscilaciones utilizando nuevos parámetros de test

II Congreso de Matemática Aplicada, Computacional e Industrial, MACI 2009

Lugar: Rosario, Argentina; Año: 2009;

EZEQUIEL BRAC; PABLO A. FERREYRA; RAOUL VELAZCO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Test and Qualification of a Fault Tolerant FPGA based Antenna System for Space Applications

LATW 2009

Lugar: Buzios, Brasil; Año: 2009;

A. MARINO; G. PERETTI; E. ROMERO; C. MARQUÉS

Desempeño de Sumadores de Punto Fijo en Arreglos Lógicos Programables

XV Workshop Iberchip

Lugar: Buenos Aires, Argentina; Año: 2009;

J. PERALTA; G. PERETTI; E. ROMERO; C. MARQUÉS

A Review in the Estimation of the Ability of Transient Analysis Method for Detecting Parametric Faults

XV Workshop Iberchip

Lugar: Buenos Aires, Argentina; Año: 2009;

EZEQUIEL BRAC; PABLO FERREYRA; RAOUL VELAZCO; CARLOS MARQUÉS; JORGE NAGUIL; RICARDO FERREYRA

Extending the Use of Failure Maps for FPGA based Applications: a case studied

2008 Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2008)

Lugar: Grenoble, Francia; Año: 2008;

J. PERALTA; G. PERETTI; E. ROMERO; C. MARQUÉS

Detecting Parametric Faults using TRAM

8th IEEE Latin American Test Workshop

Lugar: Cuzco, Perú; Año: 2007;

J. PERALTA; G. PERETTI; E. ROMERO; C. MARQUÉS

Evaluación del análisis de respuesta transitoria bajo condición de falla paramétrica

XIII Taller Iberchip

Lugar: Lima, Perú; Año: 2007;

J. CATALANO; G. PERETTI; E. ROMERO; C. MARQUÉS

Test basado en oscilaciones en filtros en escalera de tiempo continuo

8º Congreso Interamericano de Computación Aplicada a la Industria de Procesos

Lugar: Chile; Año: 2007;

E. BRAC; P. FERREYRA; R. FERREYRA; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Implementación de un recuperador de sincronismo en una FPGA para una señal BPSK (Bit synchronizer)

XII Iberchip Workshop 2006 (IWS-2006)

Lugar: San José, Costa Rica; Año: 2006;

G. PERETTI; E. ROMERO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Oscillation-based test in high-order switched capacitors ladder filters

6th International Caribbean Conference on Device, Circuits and Systems ICCDCS2006

Lugar: México; Año: 2006;

P. A. FERREYRA; G. VIGANOTTI; CARLOS ALBERTO MARQUÉS; R. VELAZCO; R. T. FERREYRA

Failure and Coverage Factors Based Markoff Models: A New Approach for Improving the Dependability Estimation in Complex Fault Tolerant Systems Exposed to SEUs

RADECS 2006

Lugar: Athens, Greece; Año: 2006;

J. NAGUIL; E. BRAC; P. FERREYRA; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Implementación de una red neuronal de Hopfield ultradiluida para reconocimiento de rostros en un DSP

XII Iberchip Workshop 2006 (IWS-2006)

Lugar: San José, Costa Rica; Año: 2006;

G. PERETTI; E. ROMERO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Oscillation-Based Test in Digital IIR Filters

7th IEEE Latin-American Test Workshop

Lugar: Buenos Aires, Argentina; Año: 2006;

G. PERETTI; E. ROMERO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Oscillation Based Test Applied to Digital Spectrometers

XII Iberchip Workshop 2006 (IWS-2006)

Lugar: San José, Costa Rica.; Año: 2006;

P. A. FERREYRA; CARLOS ALBERTO MARQUÉS; R. T. FERREYRA; G. VIGANOTTI

Obtaining Markoff Models for Dependability Estimation in Fault Tolerant Systems Exposed to SEUs

7th IEEE Latin-American Test Workshop

Lugar: Buenos Aires, Argentina; Año: 2006;

J.L. CATALANO; G. PERETTI; E. ROMERO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Exploring the Ability of Oscillation Based Test for Testing Continuous -Time Ladder Filters

7th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED'06)

Lugar: San Jose, CA, USA; Año: 2006;

E. ROMERO; G. PERETTI; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

An Operational Amplifier Model for Test Plannig at Behavioral Level

18th VLSI Conference

Lugar: Kolkata, India; Año: 2005;

E. ROMERO; G. PERETTI; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

A Set of Oscillator for Oscillation Based Test

XI Workshop IBERCHIP

Lugar: Salvador, Bahía (Brasil); Año: 2005;

T. GOETTE; P. FERREYRA; CARLOS ALBERTO MARQUÉS; J. GASPAR; R. FERREYRA

Sistema Didáctico para Filtrado Digital de Señales con FPGA

XI Workshop IBERCHIP

Lugar: Salvador, Bahía (Brasil); Año: 2005;

G. PERETTI; E. ROMERO; CARLOS ALBERTO MARQUÉS; D. VÁZQUEZ

Using Oscillation Based Test for Testing Digital Spectrometers

LATW 2005 – 6th. IEEE Latin- American Test Workshop

Lugar: Salvador, Bahía (Brazil); Año: 2005;

E. ROMERO; G. PERETTI; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

On the Ability of Oscillation Based Test for Detecting Devations Faults in Operational Amplifier Specificatios

LATW 2005 – 6th. IEEE Latin- American Test Workshop

Lugar: Salvador, Bahía (Brazil); Año: 2005;

M. FREYTES; CARLOS ALBERTO MARQUÉS

Error Recovery for Multicast Conversational Video over Error-Prone Networks (With Application to Ad Hoc WLANs)

IEEE Wireless Communication and Networking Conference (WCNC-2005)

Lugar: New Orleans, LA USA; Año: 2005;